GORE™ PHASEFLEX®微波/射频测试组件

简介

GORE™ PHASEFLEX®微波测试组件将膨体聚四氟乙烯电介质的电气优点与集成的环境防护设计相结合，这种强化组件的耐用性极佳，同时非常轻、柔性非常好，是各种通用测试应用高性价比的解决方案。

标准长度（24、36和48英寸）组件的交付周期为48小时，有些最受欢迎的组件配置可以网上购买。现在购买(英文)
我们还提供非标准长度组件，如需更多信息，包括非标准长度组件的交付周期，请联系我们。

所有GORE™ PHASEFLEX®微波测试组件弯曲时相位和幅度稳定，而且柔性好、抗挤压、抗扭曲。戈尔还提供110GHz微波测试组件. 下面提供有关工作频率高达67 GHz的标准选件的信息。

GORE™ PHASEFLEX®微波测试组件提供相变小的功率承受能力，这在任何经过校准的系统中很重要，相位匹配可用于从直流到67 GHz工作的配置，18 GHz电缆（部件号EJ）有可更换接口选件，现货供应的组件在48小时内交付，标准配置为24、36和48英寸长。

GORE™ PHASEFLEX®微波测试组件用于生产测试应用或测试区域不在设备附件的应用，也非常适合执行采用耦合器和衰减器的大功率测量的矢量网络分析仪(VNA)装置。

并非所有应用都要求戈尔VNA微波测试组件那样精确，但是相位和幅度稳定性对于正常性能仍然是至关重要的，对于这类应用，我们提供GORE™ PHASEFLEX®微波测试组件，可以提供可重复的精确测量，同时减少测量之间耗时的校准。

GORE™ PHASEFLEX®微波测试组件柔性好，但却没有与挠曲半刚性和传统设计的柔性组件相关的性能下降，内强化设计允许最小弯曲半径至1英寸(2.5 cm)，而且不影响电缆性能，GORE™ PHASEFLEX®微波测试组件的回弹几乎为零。

在测试中，我们将GORE™ PHASEFLEX®微波测试组件弯曲90°，然后反向弯曲180°，绞合中心导体电缆可执行100,000次循环（200,000次弯曲）以上，可以扭曲50,000次，顺时针扭曲25,000次和逆时针扭曲25,000次，仍然符合技术标准。

出货前，我们会测试每个GORE™ PHASEFLEX®微波测试组件，测试其最高工作频率下的回波损耗、插入损耗、相位稳定性及损耗稳定性。我们严格的测试方法模拟最恶劣的条件。

GORE™ PHASEFLEX®微波测试组件采用内强化的专利设计，用于直流到67 GHz应用，连接器品种与网络分析仪系统和被测器件相配，提供从直流到最大频率的无模宽带测量连接。下面列出各种标准连接器选件。