한 실리콘 웨이퍼 제조업체는 새로운 DI 루프를 위해 0.1 µm 필터를 시험하였다. 고어®0.02 µm 필터를 사용하여 기존 대비 1/10시간에 필요한 입자조건에 도달하였고 2년간 사용한 후에도 저입자수준을 지속적으로 유지하고 있습니다.

실리콘 반도체를 제조하는 한 업체는 신규 DI루프의 성능이 나오지 않아 어려움을 겪고 있었습니다. 4개 업체로 부터 5개 필터를 받아 시험해 보았으나 적절한 시간내에 입자수량 조건에 맞는 세척을 하는 필터는 하나도 없었습니다. 0.1 μm 의 최상의 필터는 30일이후에 입자수량 조건을 만조시켰습니다.
시스템은 2개의 루프로 구성되어 있는데, 그 하나는 DI루프이고 나머지는 UPW 루프입니다.
고어® 0.02 μm 필터가 DI루프에 설치되었는데 40”카트리지 5개와 7개 빈통이 각 하우징에 사용되었다. 입자제거성능은 DI루프 스펙을 훨씬 초과하였으며 UF모듈을 사용하는 UPW루프와 비교하여 보았다.